Qui sommes – nous ?

Probion Analysis est une société indépendante européenne créée en 1998 près de Paris,
spécialisée dans l’analyse d’échantillons semi-conducteurs, métalliques ou isolants pour
l’industrie et la recherche.

Experts en analyses SIMS (Spectrométrie de Masse par Ions Secondaires), nous proposons une
caractérisation précise des matériaux par des profils de composition élémentaire, de dopant et
de contaminant (ppm-ppb) dans tous les types de matériaux courants (Si, SiO 2 , Ge, C, SiC,
III-V et II-VI) ainsi que dans les matériaux en développement et dans les structures
multicouches associées aux composants de microélectronique et des circuits intégrés.
Nous étudions plus généralement les demandes portant sur tout type de solide (alliages
métalliques, verres, revêtements, …).

Avec une large palette d’outils d’analyse complémentaire à notre disposition (XPS, ECV
profiler, TOF-SIMS, RBS, FIB-TEM), nous prenons connaissance de vos problématiques et
vous proposons les solutions les plus adaptées à la recherche des informations dont vous avez
besoin.